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    堆棧式測試插座

    P0.4間距高精度堆疊式封裝測試裝置

    -自主開發結構設計,簡單耐用

    -顯著的接觸電阻穩定性和超長的使用壽命

    -適用P0.4 P0.5堆棧式封裝

    -適用手測,機測等多種測試方式

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    產品介紹

    FTD的堆棧式測試插座能精確的將上下芯片上的焊盤連接起來。FTD有能力設計對電性能不同要求適合最小0.4mm間距的堆棧式插座。

    產品特點

    FTD自主研發加工工藝,穩定的測試性能和使用壽命   

     >0.4mm 引腳間距   

    三溫測試能力-55°C-150°C

    封裝類型

    ●  POP 堆棧式封裝

    機械性能

    ●  產品引腳間距: 0.4mm 及以上

    ●  探針彈力: 15g -40g

    ●  測試行程:0.3mm -0.65mm

    可靠性

    ●  探針使用壽命:200K-500K                     

    ●  測試插座使用壽命: >5KK                 

    ●  清潔頻率:50K-100K


    使用材料

    ●  socket材料: 工程塑料

    ●  彈簧探針頭材料: 合金 

    ●  彈簧材料: 彈簧鋼


    電性能

    ●  接觸電阻:50mΩ

    ●  電流承載能力:2.5A 持續電流

    ●  帶寬: > 30GHZ @-1db


    使用環境

    ●  溫度范圍: -55°C - 150°C

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