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    晶圓級探針座

    P0.2mm以上晶元級別測試的低成本、高性能測試插座

    -相比探針針卡有很大的成本優勢

    -適用P0.2mm WLCSP 產品

    -適用手測、機測等多種測試方式

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    產品介紹

    FTD晶圓級探針座,適用P0.2mm以上的晶元封裝,具有良好適用壽命和較低的成本優勢。

    產品特點

    -適用Pogo PIN作為接觸部件

    -支持Kelvin測試

    -出色的接觸電阻和電流承受能力

    封裝類型

    ● WLCSP封裝

    機械性能

    ● 產品引腳間距: 0.2mm 及以上

    ● 探針彈力: 15g -30g

    ● 測試行程:0.5mm -0.85mm


    可靠性

    ● 探針使用壽命:250K

    ● 測試插座使用壽命: >5KK 

    ● 清潔頻率:50K


    使用材料

    ● socket材料: 工程塑料

    ● 彈簧探針頭材料: 合金 

    ● 彈簧材料: 彈簧鋼


    電性能

    ● 接觸電阻:80mΩ

    ● 電流承載能力:2.0A 持續電流


    使用環境

    ●  溫度范圍: -55°C - 150°C

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